Устойчивость формирования изображения с использованием тераструи относительно сдвига пучка

Обложка
  • Авторы: Поддубская О.Г.1, Новицкий A.В.2, Минин О.В.3,4, Минин И.В.3,4,5
  • Учреждения:
    1. Институт ядерных проблем Белорусского государственного университета
    2. Белорусский государственный университет
    3. Томский политехнический университет
    4. Сибирский государственный университет геосистем и технологий
    5. Новосибирский филиал Института физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения РАН, “Конструкторско-технологический институт прикладной микроэлектроники”
  • Выпуск: Том 119, № 9-10 (2024)
  • Страницы: 658-667
  • Раздел: Статьи
  • URL: https://rjonco.com/0370-274X/article/view/664271
  • DOI: https://doi.org/10.31857/S1234567824090052
  • EDN: https://elibrary.ru/KEPNIG
  • ID: 664271

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Экспериментально продемонстрирован эффект смещения изображения при асимметричном облучении диэлектрической сферы гауссовым терагерцовым пучком в системах терагерцового имиджинга. На основе численных расчетов, выполненных с использованием операторной теории рассеяния, было показано искривление области локализации электромагнитного поля вблизи теневой поверхности диэлектрической сферы при ее смещении относительно центра перетяжки гауссова пучка, приводящие к формированию так называемого “фотонного крючка”, свойства которого зависят от поляризациии и частоты падающего излучения. Экспериментально продемонстрирована возможность достижения пространственного разрешения уровня 0.38λ в исследуемом диапазоне. Полученные результаты могут использоваться для повышения разрешающей способности коммерческих сканирующих терагерцовых систем.

Об авторах

О. Г. Поддубская

Институт ядерных проблем Белорусского государственного университета

Email: paddubskaya@gmail.com
Минск, Беларусь

A. В. Новицкий

Белорусский государственный университет

Минск, Беларусь

О. В. Минин

Томский политехнический университет; Сибирский государственный университет геосистем и технологий

Томск, Россия; Новосибирск, Россия

И. В. Минин

Томский политехнический университет; Сибирский государственный университет геосистем и технологий; Новосибирский филиал Института физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения РАН, “Конструкторско-технологический институт прикладной микроэлектроники”

Томск, Россия; Новосибирск, Россия; Новосибирск, Россия

Список литературы

  1. A. Glagolewa-Arkadiewa, Nature 113, 640 (1924).
  2. Y. H. Tao, A. J. Fitzgerald, an V. P. Wallace, Sensors 20, 1424 (2020).
  3. A. Leitenstorfer, A. S. Moskalenko, T. Kampfrath et al. (Collaboration), J. Phys. D: Appl. Phys. 56, 223001 (2023).
  4. Y. Huang, Y. Shen, and J. Wang, Engineering 22, 106 (2023).
  5. K. Yamada, Y. Samura, O. V. Minin, A. Kanno, N. Sekine, J. Nakajima, I. V. Minin, and S. Hisatake, Frontiers in Communications and Networks 2, 2673 (2021).
  6. Н. В. Черномырдин, А.О. Щадько, С. П. Лебедев, И. Е. Спектор, В. Л. Толстогузов, А. С. Кучерявенко, К. М. Малахов, Г. А. Командин, В. С. Горелик, К. И. Зайцев, Оптика и спектроскопия 124, 420 (2018).
  7. T. R. Globus, D. L. Woolard, T. Khromova, T. W. Crowe, M. Bykhovskaia, B. L. Gelmont, J. Hesler, ad A. C. Samuels, Journal of Biological Physics 29, 89 (2003).
  8. Y. Huang, X. Yang, and J. Li, J. Appl. Polym. Sci. 140, e54737 (2023).
  9. P. Kuzel and H. Nemec, Adv. Opt. Mater. 8, 1900623 (2020).
  10. O. В. Минин, И. В. Минин, Квантовая электроника 52, 13 (2022).
  11. N. Chopra and J. Lloyd-Hughes, J. Infrared Millim. Terahertz Waves 44, 981 (2023).
  12. C. Bruckner, G. Notni, and A. Tunnermann, Optik 121, 113 (2010).
  13. Y. H. Lo and R. Leonhardt, Opt. Express 16, 15991 (2008).
  14. A. Pimenov and A. Loidl, Appl. Phys. Lett. 83, 4122 (2003).
  15. D.-H. Choi, J.-H. Shin, I.-M. Lee, and K. H. Park, Sensors 21, 1424 (2021).
  16. D.-H. Choi, M. Kim, D.W. Park, E. S. Lee, and I.-M. Lee, Optics & Laser Technology 174, 110557 (2024).
  17. H. H. Nguyen Pham, S. Hisatake, O. V. Minin, T. Nagatsuma, and I. V. Minin, APL Photonics 2, 056106 (2017).
  18. V. Pacheco-Pena, M. Beruete, I. V. Minin, and ˜ O. V. Minin, Appl. Phys. Lett. 105, 084102 (2014).
  19. A. Mandal and V. R. Dantham, J. Opt. Soc. Am.B 37, 977 (2020).
  20. A. Heifetz, S.-C. Kong, A. V. Sahakian, A. Taflove, and V. Backman, Journal of Computational and Theoretical Nanoscience 6, 1979 (2009).
  21. A. Mandal, P. Tiwari, P. K. Upputuri, and V. R. Dantham, Sci. Rep. 12, 173 (2022).
  22. L. Yue, Z. Wang, B. Yan, J. N. Monks, Y. Joya, R. Dhama, O. V. Minin, and I. V. Minin, Annalen der Physik 532, 2000373 (2020).
  23. A. L. S. Cruz, C. M. B. Cordeiro, and M. A. R. Franco, Proc. SPIE 9634, 963412 (2015).
  24. A. G. Paddubskaya, N. I. Valynets, A. V. Novitsky, I. V. Minin, and O. V. Minin, J. Phys. D: Appl. Phys. 57,145104 (2024).
  25. S. Hunsche, M. Koch, I. Brener, and M. C. Nuss, Opt. Commun. 150, 22 (1998).
  26. R. Chen, J. Lin, P. Jin, M. Cada, and Y. Ma, Photonic nanojets generated by rough surface micro-cylinders, in 2015 IEEE 28th Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE), Halifax, NS, Canada (2015), p. 1393; doi: 10.1109/CCECE.2015.7129483.
  27. M. Kerker, The scattering of light and other electromagnetic radiation, John Wiley and Sons Inc, N.Y. (1969), 688 p.
  28. A. Orych, The International Archives of the Photogrammetry, Remote Sensing and Spatial Information Sciences XL-1/W4, 391 (2015).
  29. R. I. Stantchev, B. Sun, S.M. Hornett, P. A. Hobson, G. M. Gibson, M. J. Padgett, and E. Hendry, Sci. Adv. 2, e1600190 (2016).
  30. R. I. Stantchev, D. B. Phillips, P. Hobson, S.M. Hornett, M. J. Padgett, and E. Hendry, Optica 4, 989 (2017).
  31. S.-C. Chen, L.-H. Du, K. Meng, J. Li, Z.-H. Zhai, Q.-W. Shi, Z.-R. Li, and L.-G. Zhu, Opt. Lett. 44, 21 (2019).
  32. A. Novitsky and L. Barkovsky, Phys. Rev. A 77, 033849 (2008).
  33. A. Novitsky, C.-W. Qiu, and H. Wang, Phys. Rev. Lett. 107, 203601 (2011).

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
Скачать

© Российская академия наук, 2024