Empirical estimation of the frequency’s domain of susceptibility of electronic devices by the method of the striking electromagnetic influence

Capa

Citar

Texto integral

Acesso aberto Acesso aberto
Acesso é fechado Acesso está concedido
Acesso é fechado Somente assinantes

Resumo

Problem of immunity of the electronic devices under powerful electromagnetic emission as well as mechanism of device response at out-of-band emission influence are discussed. Parameters which characterize level of emission influence on device are indicated. The method of the empirical estimation of threshold level of these parameters, which characterize immunity of device under the influence of ultra-wideband (UWB) emission is proposed.

Sobre autores

V. Ostashev

Joint Institute for High Temperatures of Russian Academy of Scientist

Autor responsável pela correspondência
Email: ostashev@ihed.ras.ru
Rússia, Izhorskaya str., 13, bilding 2, Moscow, 125412

A. Ulyanov

Joint Institute for High Temperatures of Russian Academy of Scientist

Email: ostashev@ihed.ras.ru
Rússia, Izhorskaya str., 13, bilding 2, Moscow, 125412

Bibliografia

  1. Foster J.S., Jr., Gjelde E., Graham W.R. et al. Report of the Commission to Assess the Threat to the United States from Electromagnetic Pulse (EMP) Attack. Critical National Infrastructures.Bernan, 2008. 218 p. http://www.empcommission.org/docs/A2473-EMP_Commission-7MB.pdf
  2. Camp M., Garbe H., Nitsch D. // IEEE Intern. Symp. on EMC. Minneapolis. 19–23 Aug. 2002. N.Y.: IEEE, 2002. P. 87.
  3. Вдовин В.А., Кулагин В.В., Черепенин В.А. // Электромагнитные волны и электрон. системы. 2003. Т. 8. № 1. С. 64.
  4. Bäckström M.G., Lövstrand K.G. // IEEE Trans. 2004. V. EMC-46. № 3. P. 396.
  5. Nitsch D., Camp M., Sabath F. et.al. // IEEE Trans. 2004. V. EMC-46. № 3. P. 380.
  6. Тяпин М.С., Мырова Л.О. // Информ. и телекоммун. технологии. 2006. № 2. С. 20.
  7. Baum C.E. // IEEE Trans. 2007. V. EMC-49. № 2. P. 211.
  8. Добыкин В.Д., Куприянов А.И., Пономарев В.Г., Шустов Л.Н. Радиоэлектронная борьба. Силовое поражение радиоэлектронных систем. М.: Вузовская книга, 2007.
  9. Бобрешов А.М., Дыбой А.В., Коровченко И.С. и др. // Физика волновых процессов и радиотехнические системы. 2008. Т. 11. № 3. С. 60.
  10. Симакин С.В., Ларионенко А.В. // Технологии ЭМС. 2009. № 3. С. 23.
  11. Hwang S.M., Hong J.I., Han S.-M. // J. Electromagn. Waves Appl. 2010. V. 24. № 8. P. 1059.
  12. Добыкин В.Д. // РЭ. 2011. Т. 56. № 2. С. 236.
  13. Ключник А.В., Пирогов Ю.А., Солодов А.В. // Журн. радиоэлектроники (электрон. журн.). 2013. № 1. http://jre.cplire.ru/jre/yan13/18/text.pdf
  14. Усыченко В.Г., Сорокин Л.Н. Стойкость сверхвысокочастотных радиоприемных устройств к электромагнитным воздействиям. М.: Радиотехника, 2017.
  15. Здухов Л.Н., Парфенов Ю.В., Тарасов О.А., Чепелев В.М. // Технологии ЭМС. 2018. № 2. С. 22.
  16. Toan N.V., Tung D.M., So J., Lee J.-G. // Adv. Electrical and Computer Engineering. 2019. V. 19. № 2. P. 37.
  17. Осташев В.Е., Ульянов А.В. // Журн. радиоэлектроники (электрон. журн.). 2019. № 2. http://jre.cplire.ru/jre/feb19/13/text.pdf
  18. ГОСТ Р 51317.2.5–2000. “Совместимость технических средств электромагнитная”. М.: Изд-во стандартов, 2001.
  19. Electromagnetic Environmental Effects Requirements for Systems. Department of defense interface standard MIL-STD-464C. Washington, 2010. 165 p. https://www.ema3d.com/wp-content/uploads/downloads/MIL-STD-464C.pdf
  20. ГОСТ 26883–86. Внешние воздействующие факторы. Термины и определения. М.: Стандартинформ, 2008.
  21. Осташев В.Е., Ульянов А.В. // Технологии ЭМС. 2018. № 4. С. 57.
  22. Баскаков С.И. Радиотехнические цепи и сигналы. М.: Высш. школа, 1983.
  23. Осташев В.Е., Ульянов А.В., Федоров В.М. // РЭ. 2020. Т. 65. № 3. С. 234.
  24. Осташев В.Е., Ульянов А.В. // РЭ. 2021. Т. 66. № 11. С. 1.

Arquivos suplementares

Arquivos suplementares
Ação
1. JATS XML
Baixar

Declaração de direitos autorais © Russian Academy of Sciences, 2024